Secondary ion mass spectrometry (SIMS, Cameca ims-6f) |
Scanning electron microscope with EDS detector (SEM-EDS) |
Cathodoluminescence detector, color |
Surface Profiler(DEK-TAK3) |
Scanning laser microscope |
Magnetic mineral separator (ISODYNAMIC) |
Ion sputtering machine |
Centrifugal separator |
Particle size analyzer (LDSA-1310A) |
Nd-YAG laser |
Quadrupole mass spectrometer (QMS) for N, C, noble gases |
(General information written in Japanese) | |
当方には、JEOL社製 JSM-5310 があります。表面をダイヤモンド、もしくはアルミナで鏡面研磨した試料の分析をする事が出来ます。試料は直径30mmまで。薄片でも、樹脂に埋め込んだ試料でもOKです。炭素蒸着をして、表面の導通を取ってから、分析します。この機器でできるのは、以下の項目です。 |
(General information written in Japanese) | |
当方には、Gatan社製 Mini-CL があります。元来は、単色カソードルミネッセンス分析器です。私たちは、光電子増倍管(フォトマル)の前にカラーフィルターをはめられるように、改造しました。赤、青、緑のバンドパスフィルターを通したルミネッセンス像を取得、合成することで、カラーカソードルミネッセンス像が得られるようになりました。ほかにも、UVバンドパスフィルターを保有しており、コランダムの分析に役に立っています。 |
SEM-EDS に付属しているので、ルミネッセンス像と元素組成を同時に分析することが出来ます。(A87319 隕石の反射電子像(左)とカラーCL像(右)) |
(General information written in Japanese) | |
当方には、日本真空社製 DEK-TAK 3 があります。この機器で、SIMSで掘った分析点の深さ、形状を調べたりします。
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(General information written in Japanese) 非接触で、表面形状を測定できます。試料をz軸方向に移動しながら、焦点の合うz軸の高さ情報を記憶させることで、高さを測定します。パソコン処理により、三次元の立体表示が可能です。
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(General information written in Japanese) |
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