使用装置 (の一部)

FE-EPMA
(JEOL JXA-8530F)

FEG-SEM EDS、
EBSD検出器付 (日立製S4500)

EPMA
(JEOL JXA-8900L)

TEM
(JEOL JEM 2010)

電気炉
(シリコニット縦型、
ジルコニアセンサー付き)

顕微赤外分光装置
(JASCO IRM-3000)

加熱ステージ付
偏光顕微鏡
(ジャパンハイテック株式会社)

プリセッションカメラ (Supper)